大容量电抗器组在长时间耐压试验后温升异常应如何判断

16875kVA/225kV无局放串联谐振试验装置进行长时间耐压试验后，电抗器组表面温度可能出现明显上升。温升是否在正常范围内，需要结合试验条件、散热条件和历史数据进行判断。

试验结束后，操作者应用红外测温仪测量各节电抗器外壳表面的温度，并与试验前环境温度对比。温升的分布情况比单一温度值更有判断价值——如果各节电抗器的温升基本一致且未超过设备技术条件规定的限值，通常属于正常发热。如果某一节电抗器的温度明显高于其他节，可能提示该节电抗器内部存在局部缺陷，例如绕组匝间绝缘损伤导致的环流增加、铁心局部短路或夹件松动引起的附加损耗增大。

温升异常还可能与谐振状态有关。如果试验过程中频率漂移导致回路偏离谐振点，电抗器上的电流可能增大，损耗随之增加，温升也会相应升高。这种情况下，检查试验记录中的频率稳定性可以作为辅助判断依据。

发现温升异常后，应先确认试验条件是否与以往相同，包括环境温度、试验电压、保压时间和电抗器组合方式。若条件相同但温升明显高于历史记录，应暂停使用该节电抗器，联系制造商进行绕组直流电阻测量和匝间绝缘检测，确认是否存在内部故障。